檢測(cè)電容極性的2大方法
一,偵錯(cuò)要點(diǎn)
·可互換高低點(diǎn),通過(guò)比較量測(cè)值,來(lái)決定較佳的參照值:標(biāo)準(zhǔn)值:
·缺件測(cè)量值顯示為-1,反向Mode 18量測(cè)值為負(fù)值, Mode 8則低于下限。
·若互換高低點(diǎn)測(cè)量值差異不大可調(diào)整延時(shí)或?qū)嶋H值。
·若互換高低點(diǎn)測(cè)量值皆很低,可能是第三端接觸問題,可先檢查第三端是否接觸正常或待測(cè)電容有歪斜,可用換針或扶正待測(cè)電容方式解決。
·治具制作時(shí)第三端選用測(cè)試針,需考慮相同位置待用料的高度差異,以免造成接觸**或刺穿待測(cè)物的問題。
·三端電容測(cè)量是用來(lái)檢測(cè)缺件及反向,無(wú)法檢測(cè)錯(cuò)件。
·按F12,查看測(cè)量值曲線,以決定*佳的參照值和延時(shí)。
二,關(guān)于電容極性檢測(cè)方法
1.漏電流法
偵錯(cuò)要點(diǎn):
·實(shí)際值以5V--10V測(cè)量時(shí),標(biāo)準(zhǔn)值之漏電流值約0.2mA--0.5mA,若反插時(shí),其反向漏電流值會(huì)遠(yuǎn)大于正向漏電流值。高點(diǎn)之腳號(hào)即是電容+端之測(cè)試針號(hào)碼,而低點(diǎn)之腳號(hào)即是電容---端之測(cè)試針號(hào)碼,通常須加較大的延遲時(shí)間,漏電流才會(huì)穩(wěn)定。
·若因大電容并聯(lián)IC或電感等元件,可能會(huì)使電容正反向漏電流差異不大而無(wú)法偵測(cè)出其電容極性。
2.三端測(cè)試法
電容極性測(cè)試的另一方法是三端測(cè)試,須在上方加一探針觸及殼體,在電容的正負(fù)極加載直流電壓,至充飽后測(cè)量殼體電壓,由于正負(fù)極與殼體間的阻電容的極性。以下為典型的設(shè)定。
零件名稱 |
實(shí)際值 |
標(biāo)準(zhǔn)值 |
上限 |
下限 |
模式 |
類型 |
高點(diǎn) |
低點(diǎn) |
延時(shí) |
隔1 |
CEI |
0.2 |
0.12V |
-1 |
20 |
8 |
PX |
陰極 |
陽(yáng)極 |
20 |
外殼 |
CEII |
0.2 |
0.001V |
-1 |
20 |
18 |
PX |
陰極 |
陽(yáng)極 |
20 |
外殼 |
實(shí)際值:為加載電壓,建議為0.2V