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什么是DFT

日期:2024-08-03 22:03
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摘要:
DFT是Design ForTesability(可測(cè)試性設(shè)計(jì))的簡(jiǎn)稱。是設(shè)計(jì)人員在進(jìn)行系統(tǒng)和電路設(shè)計(jì)的同時(shí),考慮測(cè)試的需求,通過(guò)在芯片或待測(cè)板中增加一些測(cè)試電路從而簡(jiǎn)化測(cè)試或具有測(cè)試能力過(guò)程。是一種為達(dá)到故障檢測(cè)目的所進(jìn)行的輔助性設(shè)計(jì)方法,使制作完成后的芯片或待測(cè)板能達(dá)到“可控制性”和“可測(cè)試性”兩個(gè)目的